Ölçüm çözünürlüğü, belirsizlik, yuvarlama ve birimler arasındaki farklılıkların dürüst boyutsal hassasiyeti nasıl belirlediği.
Ondalık basamaklar hassasiyetin kanıtı değildir
Bir cihaz birkaç ondalık basamak gösterebilir, ancak ekran çözünürlüğü yalnızca gösterilen en küçük artıştır. Bu durum tek başına ölçümün tamamının bu artışa kadar doğru olduğunu veya her ürünün eşdeğer hassasiyetle üretildiğini göstermez. Hizalama, temas yöntemi, referans seçimi, ortam, operatör tekniği ve cihazın performansı sonucun tümünü etkileyebilir.
Bir aralık, kanıtı daha dürüst biçimde temsil edebilir
Farklı birimlerden alınan ürünler veya tekrarlanan ölçümler aynı değeri vermeyebilir. Doğrulanmış veriler anlamlı bir farklılık gösterdiğinde, bir aralık yanlış bir kesinlik izlenimi yaratmadan bu farklılığı aktarabilir. Aralık için yine tanımlanmış bir ölçüm yöntemi, birimler, örneklem temeli ve yuvarlama kuralı gerekir. Değişkenlik olası görünüyor diye aralık uydurulmamalı ve bir gereklilik bu rolü belirlemedikçe kabul toleransı olarak sunulmamalıdır.
Bildirilen hassasiyeti ölçümle eşleştirin
Yalnızca yöntem tarafından desteklenen rakamları bildirin. Değişkenlik veya belirsizlik bir ondalık basamağı etkiliyorsa, ek basamaklar yazdırmak güvenilir bilgi eklemeden iddianın daha kesin görünmesine neden olabilir. NIST Technical Note 1297, ölçüm belirsizliğini değerlendirmek ve ifade etmek için genel bir yöntem açıklar; bu da belirsizliğin cihazda görünen basamak sayısından ayrı ele alınmasını destekler.
Örneklem özetini evrensel bir sınırla karıştırmayın
Ölçülen minimum ve maksimum, gözlemlenen örneklemi tanımlar; mevcut her birimi zorunlu olarak tanımlamaz. NIST’in kabul örneklemesine ilişkin kılavuzu da bir partinin tamamına ilişkin tanımlı bir karar vermek için örneklem kullanılması ile partinin eksiksiz kalitesinin tahmin edilmesini birbirinden ayırır. Bu nedenle güvenilir bir yayın, bir değerin nominal değer, tolerans, gözlemlenen aralık veya yuvarlanmış özet olup olmadığını belirtir. Bu sonucu bir SEWARD ürünü için uygulamak, doğrulanmış parti ölçümlerini, cihaz çözünürlüğünü ve veri özetleme yöntemini gerektirir.